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精品演绎精彩――MultiF X系列过程校验仪在多国展上闪亮登场
浏览次数:2192 发布日期:04年12月08日 来源：浙大中控
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9月14日，仪器仪表行业知名展会――第十五届多国仪器仪表展览会在北京中国国际展览馆隆重开幕。在展会期间，中控仪表公司经过精心策划的MultiF X系列过程校验仪“新产品发布会”和“新产品广告语征集大赛颁奖典礼”为中控的展台增添了一道靓丽的风景。
9月15日下午一点，浙大中控展台前人头攒动，中控仪表公司的新产品发布会在豪华的展台现场拉开了帷幕，MultiF X系列过程校验仪现场发布活动再次演绎了中控科技的精彩。公司总工程师丁云先生生动风趣的讲座和潘峰机智幽默的主持，吸引了众多观众的关注和驻足，而基于MultiF X系列过程校验仪设置的有奖抢答活动更是激发了用户的积极性，大家踊跃参与，台上、台下实时互动，成为展会的又一亮点。
伴随着MultiF X系列过程校验仪的正式发布，中控仪表公司针对此产品开展的“新产品广告语征集活动”也落下帷幕。本次广告语征集活动已历时两个月，经过综合评定后从近1500位参赛者中评选出6名入围者，最终选出了1名采纳奖，其广告语“每个过程都使我满意”真实地体现了用户的心声。现场颁奖把该活动又一次推向高潮。
通过这一系列的活动展示，不仅成功地将仪表公司的MultiF X系列过程校验仪全面推向了市场，也进一步丰富了中控的品牌形象。
新闻背景:MultiF X系列多功能过程校验仪简介
MultiF X系列多功能过程校验仪是中控仪表公司继MultiF-R\F\C系列产品后推出的又一力作，该产品在市场需求定位、软件、硬件、机械结构设计、测试、试制等每个环节都力求精益求精，其在高精度A/D转换、高速采样、万能输入、嵌入式软件、液晶显示等多功能、数字化、智能化、网络化仪表技术方面均已处于国内领先水平，是技术人员、工程师和计量人员调试和检查工业自动化系统及仪表必备的工具。
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